[实用新型]粉质仪钵体的温度控制装置有效
申请号: | 201220166101.2 | 申请日: | 2012-04-19 |
公开(公告)号: | CN202502425U | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
发明(设计)人: | 郝伟 | 申请(专利权)人: | 北京东孚久恒仪器技术有限公司 |
主分类号: | G05D23/30 | 分类号: | G05D23/30 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100037 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种粉质仪的温度控制装置,其特征在于,包括:至少一个电加热器,用于对粉质仪的和面钵体进行加热;温度传感器,用于对所述和面钵体的温度进行检测并生成温度数据;以及温度控制器,与所述至少一个电加热器和所述温度传感器连接,用于从所述温度传感器接收所述温度数据,并基于所述温度数据来控制所述至少一个电加热器的加热。本实用新型的粉质仪温度控制装置能够直接对钵体进行加热,不需要外部辅助加热源,简化了粉质仪的结构和测试流程,降低了设备成本,使温度控制更加精确,有利于获得更稳定的测试结果。 | ||
搜索关键词: | 粉质仪钵体 温度 控制 装置 | ||
【主权项】:
一种粉质仪的温度控制装置,其特征在于,包括:至少一个电加热器,用于对粉质仪的和面钵体进行加热;温度传感器,用于对所述和面钵体的温度进行检测并生成温度数据;以及温度控制器,与所述至少一个电加热器和所述温度传感器连接,用于从所述温度传感器接收所述温度数据,并基于所述温度数据来控制所述至少一个电加热器的加热。
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