[实用新型]X光源点与成像平面相对位置测量器有效
| 申请号： | 201220174615.2 | 申请日： | 2012-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN202553960U | 公开（公告）日： | 2012-11-28 |
| 发明（设计）人： | 周鹏程;胡方遒;闫士举 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 杨元焱 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种X光源点与成像平面相对位置测量器，包括上层测定板和下层测定板，上层测定板和下层测定板平行间隔相连，在下层测定板上设有一个第一钢球和四个第二钢球，在上层测定板上设有多个第三钢球。采用本实用新型的X光源点与成像平面相对位置测量器对C形臂X光锥进行测定，根据测定结果再配合计算即可得出在不同C形臂姿态下其X光源点与成像平面之间的相对位置关系。 | ||
| 搜索关键词： | 源点 成像 平面 相对 位置 测量器 | ||
【主权项】：
一种X光源点与成像平面相对位置测量器，其特征在于：包括上层测定板和下层测定板，上层测定板和下层测定板平行间隔相连，在下层测定板上设有一个第一钢球和四个第二钢球，在上层测定板上设有多个第三钢球。
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