[实用新型]一种电子元器件电性测盘有效
| 申请号： | 201220208847.5 | 申请日： | 2012-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN202614788U | 公开（公告）日： | 2012-12-19 |
| 发明（设计）人： | 陈健业;曾艳军;田志飞 | 申请（专利权）人： | 深圳顺络电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 518110 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电子元器件电性测盘，所述电子元器件电性测盘的表面开有槽道，所述槽道内开有通孔。本实用新型的有益效果是：由于在电子元器件电性测盘的开设有槽道，在测盘的被测电子元器件由于测盘的振动容易进入槽道并进入通孔，从而实现电子元器件的定位，进而测试器具才可以进行测试；再者，设置在边缘的环形槽不仅可以让更多的被测电子元器件进入环形槽，而且在测盘转动时，只需要将测试器具固定在一个位置即可以对每个经过的通孔内的电子元器件进行测试；另外增加测盘的厚度使其更加耐用寿命更长。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 电性测盘 | ||
【主权项】：
一种电子元器件电性测盘，其特征是：所述电子元器件电性测盘的表面开有槽道，所述槽道内开有通孔。
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