[实用新型]光束斯托克斯参量测量装置有效
| 申请号： | 201220244241.7 | 申请日： | 2012-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN202648799U | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 汤飞龙;李中梁;王向朝;步扬;曹绍谦 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种光束斯托克斯参量测量装置，该偏振测量装置由分光棱镜组、相位延迟器阵列、检偏器、光电探测器阵列以及信号处理系统组成，光电探测器阵列各单元与相位延迟器阵列各单元一一对应。本实用新型可以对光束斯托克斯参量实时测量，减小了相位延迟器件的相位延迟量误差、快轴方向误差和检偏器的透光轴方向误差、消光比误差对光束偏振态测量精度的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 光束 斯托 参量 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种光束斯托克斯参量测量装置，其特征在于该装置的构成包括沿系统光轴依次设置的：分光棱镜组（2）、相位延迟器阵列（3）、检偏器（4）和光电探测器阵列（5），所述的光电探测器阵列（5）的输出端接信号处理系统（6），所述的光电探测器阵列（5）各单元与所述的相位延迟器阵列（3）各单元一一对应，并根据所述待测光的偏振方向，调整所述的检偏器（4）的透光轴方向与所述待测光束的偏振方向平行及垂直后，分别再进行待测光束的偏振参量测量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所，未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201220244241.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
