[实用新型]齿型盘结构及电子元件的检测机装置有效
| 申请号： | 201220255584.3 | 申请日： | 2012-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN202599434U | 公开（公告）日： | 2012-12-12 |
| 发明（设计）人： | 潘廷福 | 申请（专利权）人： | 耀裕精工股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D11/00 | 分类号： | G01D11/00;G01D21/00 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 中国台湾台北*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型是有关于一种齿型盘结构及电子元件的检测机装置，其包括：一本体；一齿型盘；至少一检测单元；至少一进料单元；以及至少一出料单元。齿型盘的转盘可旋转的设置于本体上，并且转盘上方侧环状设置有一置料部，其中置料部的至少一置料区在水平方向形成有第一开口及第二开口，以提供检测单元进行水平方向的检测，而进料单元及出料单元设置于本体上以水平方式输送及输出电子元件。藉由本实用新型的实施，能以水平方式快速进行电子元件的置放作业且进行水平方向的检测，进而提升检测作业的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 盘结 电子元件 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种齿型盘结构，其用于电子元件的检测机，该齿型盘设置于该检测机装置的一本体上，其特征在于，该齿型盘包括：一转盘，可旋转的设置于该本体上；及至少一置料部，环状形成于该转盘的上方侧，又该置料部具有至少一置料区，该置料区为一凹槽且该凹槽的水平方向形成有一组相对应的一第一开口及一第二开口。
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