[实用新型]半导体芯片悬臂封装的定位结构有效
申请号: | 201220315465.2 | 申请日: | 2012-07-02 |
公开(公告)号: | CN202678286U | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | 时文岗;王成亮 | 申请(专利权)人: | 苏州均华精密机械有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/68 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 马明渡 |
地址: | 215101 江苏省苏州市吴中区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种半导体芯片悬臂封装的定位结构,包括在竖直方向上间隔设置的上模架和下模架,所述上模架和下模架之间设置有上模组和下模组,其特征在于:上模组中上模板相对于上模架定位设置,相对于上模架在竖直方向上活动设置有第一转进板和第二转进板,第一转进板朝向上模板对应于塑封胶体设置有上模顶针,第二转进板朝向上模板对应于半导体芯片悬臂设置有上模夹持顶针;下模组中下模板相对于下模架定位设置,相对于下模架在竖直方向上活动设置有第三转进板和第四转进板,所述第三转进板朝向下模板对应于塑封胶体设置有下模顶针,第四转进板朝向下模板对应于半导体芯片悬臂设置有下模夹持顶针,该定位结构解决了裸芯片组件在型腔中悬臂端Z方向定位问题。 | ||
搜索关键词: | 半导体 芯片 悬臂 封装 定位 结构 | ||
【主权项】:
一种半导体芯片悬臂封装的定位结构,包括在竖直方向上间隔设置的上模架(1)和下模架(2),所述上模架(1)和下模架(2)之间设置有上模组和下模组,其特征在于:所述上模组由上模盒和位于上模盒下方的上模板(3)组成,所述上模板(3)相对于上模架(1)定位设置,上模盒由第一转进板(4)和第二转进板(5)组成,第一转进板(4)和第二转进板(5)均水平布置且相对于上模架(1)在竖直方向上活动设置,所述第一转进板(4)朝向上模板(3)对应于塑封胶体(6)设置有上模顶针(8),第二转进板(5)朝向上模板(3)对应于半导体芯片悬臂(7)设置有上模夹持顶针(9),同时对应于第二转进板(5)设置有第一上下驱动机构(10);所述下模组由下模盒和位于下模盒上方的下模板(11)组成,所述下模板(11)相对于下模架(2)定位设置,下模盒由第三转进板(12)和第四转进板(13)组成,第三转进板(12)和第四转进板(13)均水平布置且相对于下模架(2)在竖直方向上活动设置,所述第三转进板(12)朝向下模板(11)对应于塑封胶体(6)设置有下模顶针(14),第四转进板(13)朝向下模板(11)对应于半导体芯片悬臂(7)设置有下模夹持顶针(15),同时对应于第四转进板(13)设置有第二上下驱动机构(16)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造