[实用新型]可调节的采样头基座及包括该采样头基座的颗粒监测仪器有效
| 申请号： | 201220362445.0 | 申请日： | 2012-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN202757866U | 公开（公告）日： | 2013-02-27 |
| 发明（设计）人： | 潘军花;王祺;陈蓉 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N1/22 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 王敏杰 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供的一种可调节的采样头基座以及包括上述可调节的采样头基座的颗粒监测仪器，应用于采样头及采样软管的固定，包括连杆与底座。所述连杆下部为长度固定的管状结构，所述连杆的上部为可伸缩的套接管状结构；底座活动连接到连杆。本实用新型提供的可调节的采样头基座以及颗粒监测仪器可以将采样头固定在狭小空间，解决了狭小空间采样困难的问题，并且可以在消除人员影响的前提下进行空气颗粒采样；所增加的转动及高度调节功能，可以使采样头处于不同位置，提高对环境空间的适应能力。 | ||
| 搜索关键词： | 调节 采样 基座 包括 颗粒 监测仪器 | ||
【主权项】：
一种可调节的采样头基座，应用于采样头及采样软管的固定，其特征在于，包括连杆与底座；所述连杆下部为长度固定的管状结构，所述连杆的上部为可伸缩的套接管状结构；所述底座与所述连杆活动连接。
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