[实用新型]Q开关晶体调试固定架有效
申请号: | 201220365919.7 | 申请日: | 2012-07-23 |
公开(公告)号: | CN202797599U | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 王晖;陈菁蓉;汝军;桑振;李启明 | 申请(专利权)人: | 合肥广安科技开发有限责任公司 |
主分类号: | H01S3/10 | 分类号: | H01S3/10;H01S3/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 230000 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型公开了Q开关晶体调试固定架,包括Q开关晶体、Q开关晶体固定架和调整架,Q开关晶体固定架固装于调整架上,Q开关晶体固定架与调整架上通过螺纹连接固定,Q开关晶体设置于Q开关晶体固定架内,通过3个螺丝钉固定。本实用新型解决了Q开关晶体更换安装操作安装不方便的问题,设计简单,结构合理,更换Q开关晶体只需将Q开关晶体固定架旋下来,重新换上Q开关晶体,然后旋入调整架即可,操作方便。 | ||
搜索关键词: | 开关 晶体 调试 固定 | ||
【主权项】:
Q开关晶体调试固定架,包括Q开关晶体、Q开关晶体固定架和调整架,其特征在于:所述的Q开关晶体固定架固装于调整架上,Q开关晶体固定架与调整架上通过螺纹连接固定,Q开关晶体设置于Q开关晶体固定架内,通过3个螺丝钉固定。
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