[实用新型]芯片的电流检测电路有效
| 申请号： | 201220378736.9 | 申请日： | 2012-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN202735401U | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 肖飞;郑辰光;其他发明人请求不公开姓名 | 申请（专利权）人： | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/165 | 分类号： | G01R19/165 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 吴贵明;李志刚 |
| 地址： | 100048 北京市海淀区西*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种芯片的电流检测电路，该电路包括：栅极驱动电路；第一NMOS管；第二NMOS管；第一电阻；第二电阻；比较器；恒流源；以及调整器件，该调整器件根据输出NMOS所处的不同工作区域进行调整以使得输出NMOS处在不同工作区域时芯片的过流阈值相等。本实用新型解决了相关技术中芯片的电流检测电路未考虑输出MOS管的工作区域的问题，实现了输出MOS管工作在饱和区和线性区时芯片的过流阈值一致。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 电流 检测 电路 | ||
【主权项】：
一种芯片的电流检测电路，其特征在于，包括：栅极驱动电路，用于输出栅极驱动电压；第一NMOS管，所述第一NMOS管的栅极与所述栅极驱动电路连接；第二NMOS管，所述第二NMOS管的栅极与所述第一NMOS管的栅极连接；第一电阻，所述第一电阻的第一端与所述第二NMOS管的漏极连接，所述第一电阻的第二端分别与所述第一NMOS管的漏极和电源电压连接；第二电阻，所述第二电阻的第一端与所述第一NMOS管的漏极连接；比较器，所述比较器的第一输入端与所述第二NMOS管的漏极连接，所述比较器的第二输入端与所述第二电阻的第二端连接；恒流源，所述恒流源的第一端与所述比较器的第二输入端连接，所述恒流源的第二输入端接地；以及调整器件，所述调整器件的第一端与所述第一NMOS管的栅极连接，所述调整器件的第二端与所述第二电阻连接，所述调整器件的第三端与所述第一NMOS管的漏极和所述电源电压连接，用于根据所述第一NMOS管所处的不同工作区域进行调整以使得所述第一NMOS管处在不同工作区域时芯片的过流阈值相等，其中，所述不同区域包括饱和区和线性区。
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