[实用新型]基于LABVIEW的IC测试系统有效
| 申请号： | 201220380152.5 | 申请日： | 2012-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN202693750U | 公开（公告）日： | 2013-01-23 |
| 发明（设计）人： | 袁俊 | 申请（专利权）人： | 东莞利扬微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 东莞市冠诚知识产权代理有限公司 44272 | 代理人： | 张作林 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本新型提供了一种基于LABVIEW的IC测试系统，其包括数字电源、信号发生器、频谱仪及机械手臂，所述的数字电源连接被测IC芯片的电源输入端提供电源，所述的信号发生器连接被测IC芯片的信号输入端，所述的频谱仪连接被测芯片的信号输出端，所述的机械手臂移动或紧压所述的被测IC芯片；所述的信号发生器、频谱仪及机械手臂分别通过GPIB接口与LABVIEW测试平台主机连接。本实用新型使用Labview开发软件整合市面上常用测试仪表：信号发生器、频谱分析仪、示波器等，芯片设计公司可以直接使用他们的研发工板，配合工程调试用的测量仪器，可以大大缩短测试方案开发时间、降低测试方案开发难度、节约测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 labview ic 测试 系统 | ||
【主权项】：
基于LABVIEW的IC测试系统，其特征在于：包括数字电源、信号发生器、频谱仪及机械手臂，所述的数字电源连接被测IC芯片的电源输入端提供电源，所述的信号发生器连接被测IC芯片的信号输入端，所述的频谱仪连接被测芯片的信号输出端，所述的机械手臂移动或紧压所述的被测IC芯片。
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