[实用新型]一种晶圆测试平台的专用PIB有效

专利信息
申请号: 201220380613.9 申请日: 2012-08-02
公开(公告)号: CN202693619U 公开(公告)日: 2013-01-23
发明(设计)人: 袁俊 申请(专利权)人: 东莞利扬微电子有限公司
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;G01R31/26
代理公司: 东莞市冠诚知识产权代理有限公司 44272 代理人: 张作林
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本新型提供了一种晶圆测试平台的专用PIB,包括信号带、测试机信号接点和转接接口,所述的信号带包括以圆盘的中心为圆心的第一环状信号接点及紧贴第一环状信号接点外圈的第二环状信号接点,所述的转接接口分组并排列于第二环状信号接点的外围呈环形。所述的第一环状信号接点分布密度比第二环状信号接点分布密度大。本实用新型从节约成本角度考虑,由一块用于T2000的特别设计的PIB加上J750的PogoTower、ProbeCard,就可实现和Probe的连接,其既降低了配件的采购成本,也可以使用灵活,其除了用于T2000的测试平台,也可以用于J750平台,实行一版多用。
搜索关键词: 一种 测试 平台 专用 pib
【主权项】:
一种晶圆测试平台的专用PIB,包括信号带、测试机信号接点和转接接口,其特征在于:所述的信号带包括以圆盘的中心为圆心的第一环状信号接点及紧贴第一环状信号接点外圈的第二环状信号接点,所述的转接接口分组并排列于第二环状信号接点的外围呈环形。
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