[实用新型]一种用于晶片电阻检测的定位装置有效

专利信息
申请号: 201220396222.6 申请日: 2012-08-10
公开(公告)号: CN202815018U 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 李永传;徐明哲;李刚;陈海滨;黄斌;马新升 申请(专利权)人: 昆山市和博电子科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R27/02
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种用于晶片电阻检测的定位装置,包括对射光电感应器、对射光电感应器安装支架和产品托板,其特征在于:在产品托板上开设有用于放置产品的放置开口,在放置开口的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口,所述对射光电感应器安装支架伸入到定位开口内,所述对射光电感应器安装在对射光电感应器安装支架上。本实用新型解决了现有技术中晶片电阻定位机构结构复杂,工艺繁琐,造价成本高,透光性较差,无法判别放置晶片电阻是否为良好品的问题,提供了一种定位方式简单,使用方便,造价便宜,透光性较好的用于晶片电阻检测的定位装置。
搜索关键词: 一种 用于 晶片 电阻 检测 定位 装置
【主权项】:
一种用于晶片电阻检测的定位装置,包括对射光电感应器、对射光电感应器安装支架和产品托板,其特征在于:在产品托板上开设有用于放置产品的放置开口,在放置开口的左右两侧分别横向贯通连接有一个定位开口,所述对射光电感应器安装支架伸入到定位开口内,所述对射光电感应器安装在对射光电感应器安装支架上。
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