[实用新型]电性测试装置及系统有效
申请号: | 201220407263.0 | 申请日: | 2012-08-16 |
公开(公告)号: | CN202758021U | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 张弓长;王文赫;曾元宏 | 申请(专利权)人: | 国网电力科学研究院;国家电网公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/02 |
代理公司: | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人: | 王正茂;彭晓玲 |
地址: | 210003 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种电性测试装置及系统,包括一个基板,所述基板上设有至少一个芯片卡槽,所述芯片卡槽中设有至少一根与一个芯片管脚形成电连接的管脚延长导线,每根所述管脚延长导线从所述芯片卡槽中延伸到所述基板上,每根所述管脚延长导线均在所述基板的表面上形成一个探测点。本实用新型结构简单,检测芯片时不会受到管脚过细、管脚间距过小的干扰,并且操作省时省力,整个装置的成本低廉。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 系统 | ||
【主权项】:
一种电性测试装置,其特征在于,包括一个基板,所述基板上设有至少一个芯片卡槽,所述芯片卡槽中设有至少一根与一个芯片管脚形成电连接的管脚延长导线,每根所述管脚延长导线从所述芯片卡槽中延伸到所述基板上,每根所述管脚延长导线均在所述基板的表面上形成一个探测点。
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