[实用新型]一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备有效
| 申请号： | 201220487086.1 | 申请日： | 2012-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN202815168U | 公开（公告）日： | 2013-03-20 |
| 发明（设计）人： | 林振国;黄晓彬;梁元 | 申请（专利权）人： | 惠州市德赛西威汽车电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 任海燕 |
| 地址： | 516006 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及测试设备相关技术领域，特别是一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，包括：主恒流源、若干个副恒流源电路和测试部，所述主恒流源与若干个副恒流源电路并联后与测试部串联，所述副恒流源电路包括一个副恒流源和若干个副恒流源开关，副恒流源与并联后的若干个副恒流源开关串联，所述测试部包括一个数据采集板卡，以及与数据采集板卡并联的若干测试通道，每条测试通道包括依次串联的第一测试开关、第一测试点、待测发光二极管、第二测试点和第二测试开关。本实用新型用瞬间电流冲击的热效应来模拟实际环境的极端温度，从而对硅树脂封装LED进行有效检测，同时使用了用简单程控开关的方式实现了精确地时序控制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 硅树脂 封装 发光二极管 电流 冲击 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种硅树脂封装发光二极管的电流冲击测试设备，用于对若干个待测发光二极管进行测试，其特征在于，包括：主恒流源、若干个副恒流源电路和测试部，所述主恒流源与若干个副恒流源电路并联后与测试部串联，所述副恒流源电路包括一个副恒流源和若干个副恒流源开关，副恒流源与并联后的若干个副恒流源开关串联，所述测试部包括一个数据采集板卡，以及与数据采集板卡并联的若干测试通道，每条测试通道包括依次串联的第一测试开关、第一测试点、待测发光二极管、第二测试点和第二测试开关。
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