[实用新型]极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统有效

专利信息
申请号: 201220511774.7 申请日: 2012-10-08
公开(公告)号: CN202885836U 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 潘亮;赵建科;张周锋;田留德;高博;段炯 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 姚敏杰
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 实用新型涉及一种极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,该测试系统包括数据采集控制计算机、自准直仪、恒温试验箱、多齿分度台以及与待测经纬仪固定连接的平面反射镜;多齿分度台设置在恒温试验箱内部并与数据采集控制计算机通过线缆电性连接;恒温试验箱的侧壁上设置有光学窗口;待测经纬仪设置在多齿分度台上;自准直仪通过光学窗口与平面反射镜相对并处于等高位置;数据采集控制计算机分别与多齿分度台以及自准直仪相连。本实用新型提供了一种自动化程度高、测量精度高以及稳定性高的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统。
搜索关键词: 极端 温度 条件下 经纬仪 水平 一测回 精度 测试 系统
【主权项】:
一种极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统,其特征在于:所述极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统包括数据采集控制计算机、自准直仪、恒温试验箱、多齿分度台以及与待测经纬仪固定连接的平面反射镜;所述多齿分度台设置在恒温试验箱内部并与数据采集控制计算机通过线缆电性连接;所述恒温试验箱的侧壁上设置有光学窗口;待测经纬仪设置在多齿分度台上;所述自准直仪通过光学窗口与平面反射镜相对并处于等高位置;所述数据采集控制计算机分别与多齿分度台以及自准直仪相连。
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