[实用新型]内孔双键槽对称度和深度测量仪有效

专利信息
申请号: 201220515938.3 申请日: 2012-10-10
公开(公告)号: CN202793292U 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 顾琳炎;曹冬美;王骏;周小模 申请(专利权)人: 无锡职业技术学院
主分类号: G01B5/25 分类号: G01B5/25;G01B5/18
代理公司: 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 代理人: 奚胜元
地址: 214121 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型内孔双键槽对称度和深度测量仪属于机械加工制造领域,涉及的是一种双键联接时的内孔双键槽对联称度和深度的测量仪。包括基体、第一测量副尺、第二测量副尺、数显千分表和表座,表座与基体之间通过燕尾导轨相联接,表座在基体上左右往复移动;数显千分表通过间隙配合与表座装配在一起,并用第三锁紧螺钉进行固定;第一测量副尺和第二测量副尺分别通过燕尾导轨与基体相联接,并分别用第一锁紧螺钉和第二锁紧螺钉进行固定。本实用新型内孔双键槽对称度和深度测量仪设计合理,结构简单,便于制作,移动副之间采用燕尾导轨联接,保证移动稳定性。使用数显千分表测量键槽侧面到孔壁的距离,精度高。
搜索关键词: 双键 对称 深度 测量仪
【主权项】:
一种内孔双键槽对称度和深度测量仪,其特征在于:包括基体、第一测量副尺、第二测量副尺、数显千分表和表座,表座与基体之间通过燕尾导轨相联接,表座在基体上左右往复移动;数显千分表通过间隙配合与表座装配在一起,并用第三锁紧螺钉进行固定;第一测量副尺和第二测量副尺分别通过燕尾导轨与基体相联接,并分别用第一锁紧螺钉和第二锁紧螺钉进行固定。
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