[实用新型]芯片手测器有效
| 申请号： | 201220544414.7 | 申请日： | 2012-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN202916404U | 公开（公告）日： | 2013-05-01 |
| 发明（设计）人： | 王浩;王刚 | 申请（专利权）人： | 镇江艾科半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 212009 江苏省镇*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种芯片手测器，可以测试不同厚度芯片。结构为：一种芯片手测器，包括压盖（100）和盖片，其特征为：压盖（100）中设有螺纹，盖片为紧固螺栓（102）与压盖（100）螺纹连接，设有一定位螺母（101）于压盖（100）上与紧固螺栓（102）螺纹连接。芯片手测器厚度调节通过紧固螺栓（102）、定位螺母（101）实现。通过可调节高度的螺杆结构，一个压盖可适用于所有不同厚度的芯片测试需求。在节省成本，缩短工程周期和可靠性等方面都起到了非常显著的作用和效益。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 手测器 | ||
【主权项】：
一种芯片手测器，包括压盖（100）和盖片，其特征为：压盖（100）中设有螺纹，盖片为紧固螺栓（102）与压盖（100）螺纹连接。
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