[实用新型]一种非接触式直线位置测量装置有效

专利信息
申请号: 201220569914.6 申请日: 2012-10-31
公开(公告)号: CN202836499U 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 刘兆;耿振;蔡明 申请(专利权)人: 北京京仪海福尔自动化仪表有限公司
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;赵镇勇
地址: 100011*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型提供了一种非接触式直线位置测量装置,包括磁钢构件、探头部件和磁场检测电路,所述磁钢构件用于形成测量所需的永久磁场,所述磁场检测电路设置在所述探头部件内部。本实用新型通过非接触式直线位置测量,解决了接触式位置传感器线性度受到连接结构限制的制约的问题,并消除了接触式测量中存在的机械磨损大、滞后、易受外界震动影响、精度低的缺陷,还能够消除机械件摩擦产生的部件疲劳,提高装置的寿命。
搜索关键词: 一种 接触 直线 位置 测量 装置
【主权项】:
一种非接触式直线位置测量装置,其特征在于,包括磁钢构件、探头部件和磁场检测电路,所述磁钢构件用于形成测量所需的永久磁场,所述磁场检测电路设置在所述探头部件内部。
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