[实用新型]测量固体热物性参数的光学系统有效
| 申请号： | 201220617402.2 | 申请日： | 2012-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN203037569U | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 邱琳;徐先锋;唐大伟;祝捷;布文峰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院工程热物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 宋焰琴 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种测量固体热物性参数的光学系统。该光学系统包括：加热激光产生组件、探测激光产生组件、合束元件、分光元件、加热激光接收组件、样品测试组件和探测激光接收组件。本实用新型采用信号调制的光热反射法，属于频域方法，和超短脉冲激光抽运探测法等时域方法相比，没有机械运动部件，测量系统相对简单、光路调节更方便。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 固体 物性 参数 光学系统 | ||
【主权项】：
一种测量固体热物性参数的光学系统，其特征在于，包括： 产生频率调制连续偏振加热激光的加热激光产生组件； 产生连续偏振探测激光的探测激光产生组件； 将加热激光和探测激光合束为位于A平面合束激光的合束元件； 将偏振方向在A平面的合束激光成分透射至样品测试组件及偏振方向垂直于该A平面的合束激光成分反射至加热激光接收组件，并将由样品测试组件投射的被测试样品表面反射的加热激光及调制后的探测激光的合束激光反射至探测激光接收组件的分光元件； 将偏振方向在A平面的合束光成分透射至被测试样品表面，将被测试样品表面反射的加热激光及调制后的探测激光的合束激光透射至分光元件的样品测试组件； 将入射合束激光中的加热激光成分滤除后，得到探测激光的信号的探测激光接收组件；以及 将入射合束激光中的探测激光成分滤除后，得到加热激光的信号的加热激光接收组件。
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