[实用新型]激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置有效
| 申请号： | 201220714982.7 | 申请日： | 2012-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN203054147U | 公开（公告）日： | 2013-07-10 |
| 发明（设计）人： | 王宝杰;刘克富;邱剑;卢元达;张田 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R31/327 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人： | 陆飞;盛志范 |
| 地址： | 200433 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型属于开关器件测试技术领域，具体为一种激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置。本实用新型包含高压偏置源、激光二极管驱动、同步控制系统、光导开关检测电路系统和光导开关检测平台。通过同步控制系统控制偏压与驱动的同步性，通过光学平台控制激光二极管与光导开关的相对触发位置。本实用新型适用于实验室及研究所以及制造测试光导开关的厂家。 | ||
| 搜索关键词： | 激光二极管 触发 开关 通性 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种激光二极管触发的光导开关导通性能测试装置，其特征在于由高压偏置源（1）、激光二极管驱动（2）、同步控制系统（3）、光导开关检测电路（4）和光导开关检测平台（5）组成，其中：所述的高压偏置源（1）采用Marx电路拓扑结构，充电电源为直流源；所述的激光二极管驱动（2）采用雪崩管电路实现，即激光二极管驱动采用电容经过雪崩管快速对激光二极管放电的方式产生快的驱动电流得到快的光脉冲；所述的同步控制系统（3）由高压驱动信号（12）、FPGA控制核心（11）和驱动控制信号（13）依次连接组成，由FPGA控制核心（11）控制高压驱动信号（12）和驱动控制信号（13）的同步输出；所述光导开关检测电路（4）由储能传输线（6）、光导开关（7）、测量连接传输线（8）、衰减器（9）和示波器（10）依次连接组成；所述光导开关检测平台（5）置于光学平台底板（14）上，光导开关检测平台（5）由光学平移台（15）、固定支架（16）、激光二极管驱动（2），以及置于塑料盒（20）中的光导开关（7）、印刷电路板（18）、固定支柱（19）和变压器绝缘油（21）组成；由光学平移台（15）、固定支架（16）、激光二极管驱动（2）通过铜柱（17）固定。
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