[发明专利]调制信号检测装置及调制信号检测方法无效

专利信息
申请号: 201280002214.1 申请日: 2012-06-11
公开(公告)号: CN103038826A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 伊藤清贵;日野泰守 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135;G01B9/02;G01B11/24;G11B7/005
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 光分歧部(902)将从波长可变激光器(901)射出的激光分割为信号光和参照光,干涉部(905)使被调制的信号光和被参照光镜(904)反射的参照光相互干涉,信号处理部(907)基于干涉光检测信号,生成用于控制波长可变激光器(901)的振荡波长的振荡波长控制信号,在设信号光通过的光路的长度以真空中的折射率换算出的初期光程为ld0,参照光通过的光路的长度以真空中的折射率换算出的初期光程为lm0,以真空中的折射率换算出的信号光和参照光的光程差的变动幅度为Δl,波长可变激光器(901)的中心振荡波长为λ0,波长可变激光器(901)的振荡波长可变范围为Δλ时,初期光程差|ld0-lm0|满足|ld0-lm0|>(Δl/Δλ)λ0。
搜索关键词: 调制 信号 检测 装置 方法
【主权项】:
一种调制信号检测装置,用于检测调制信号,其特征在于包括:波长可变激光器,射出激光、能够变更振荡波长;光分歧器,将从所述波长可变激光器射出的所述激光分割为信号光和参照光;参照光镜,配置在所述参照光的光路上;干涉部,使被调制的所述信号光和被所述参照光镜反射的所述参照光相互干涉;干涉光检测部,检测由所述干涉部产生的干涉光并输出干涉光检测信号;波长控制信号生成部,基于所述干涉光检测信号,生成用于控制所述波长可变激光器的振荡波长的振荡波长控制信号,其中,当设所述信号光通过的光路的长度以真空中的折射率换算出的初期光程为ld0,所述参照光通过的光路的长度以真空中的折射率换算出的初期光程为lm0,以真空中的折射率换算出的所述信号光和所述参照光的光程差的变动幅度为Δl,所述波长可变激光器的中心振荡波长为λ0,所述波长可变激光器的振荡波长可变范围为Δλ时,初期光程差|ld0‑lm0|满足下式(1), | ld 0 - lm 0 | > Δl Δλ λ o · · · · · · ( 1 ) .
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