[发明专利]光纤特性测量方法和光模块

摘要

本发明实施例提供了一种光纤特性测量方法和光模块，涉及光纤通信领域。本发明在对待测量光纤链路进行测试时，通过光模块所包含的探测器接收和发送承载测试信号的两种波长光，使得能够获取到两种波长光的测试曲线，而由于两种波长光在传输过程中各自的特性，增强了在对链路上的弯曲事件进行识别的能力，提高测量精确度。

主权项

一种光纤特性测量方法，其特征在于，所述方法包括：光时域反射计集成电路OTDR ASIC通过激光二极管LD向耦合器发送承载第一测试信号的第一波长光，所述耦合器透射所述承载第一测试信号的第一波长光的第一指定部分，由光纤耦合器将所述承载第一测试信号的第一波长光的第一指定部分耦合至待测量光纤链路，使得所述待测量光纤链路对所述第一波长光的第一指定部分进行反射或散射，返回承载第一后向信号的第一波长光；耦合器将所述承载第一后向信号的第一波长光的第二指定部分反射到PD上，由所述PD转换为电信号，再经跨阻放大器TIA进行放大，所述OTDR ASIC对放大后的信号进行处理，得到所述待测量光纤链路的第一测试曲线；OTDR ASIC通过LD发送承载第二测试信号的第二波长光，分光器对所述第二波长光的第三指定部分进行反射，使得将所述第二波长光的指定部分通过耦合器耦合至待测量光纤链路，由所述待测量光纤链路对所述第二波长光进行反射或散射，返回承载第二后向信号的第二波长光；分光器对所述承载第二后向信号的第二波长光的第四指定部分进行透射，由耦合器将所述承载第二后向信号的第二波长光的第四指定部分反射到PD上，由所述PD转换为电信号，再经跨阻放大器TIA进行放大，所述OTDR ASIC对放大后的信号进行处理，得到所述待测量光纤链路的第二测试曲线；根据所述第一测试曲线和所述第二测试曲线，得到所述待测量光纤链路的光纤特性曲线。