[发明专利]静电带电测量方法和装置无效
申请号: | 201280003745.2 | 申请日: | 2012-01-25 |
公开(公告)号: | CN103221831A | 公开(公告)日: | 2013-07-24 |
发明(设计)人: | 菊永和也;野中一洋 | 申请(专利权)人: | 独立行政法人产业技术综合研究所 |
主分类号: | G01R29/24 | 分类号: | G01R29/24;G01R29/08;G01R29/12 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种静电带电测量方法和装置,其同时满足以下的三个条件,即(1)非破坏性地测量静电带电,(2)在金属、绝缘物混杂时减少测量对象受环境的影响来测量静电带电,(3)非接近地测量静电带电。本发明的静电带电测量方法具备:施加步骤,对测量对象物施加预先选定的振动频率、振幅的振动;强度测量步骤,测量伴随着测量对象物的振动而产生的电磁波的强度;状态测量步骤,根据在测量步骤中测量出的电磁波的强度来对测量对象物的静电带电状态进行测量。 | ||
搜索关键词: | 静电 带电 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
一种静电带电测量方法,其中,包括以下步骤:施加步骤,对测量对象物施加预先选定的振动频率和振幅的振动;强度测量步骤,测量伴随着上述测量对象物的振动而产生的电磁波的强度;状态测量步骤,根据在上述强度测量步骤中测量出的电磁波的强度,对上述测量对象物的静电带电状态进行测量。
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