[发明专利]用于制造用于证实分析物的装置的方法以及装置及其应用有效
| 申请号： | 201280008324.9 | 申请日： | 2012-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN103477218A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | E·克特尔亨;M·班策特;B·霍夫曼;D·迈耶;A·奥芬霍伊泽;B·沃尔夫鲁姆 | 申请（专利权）人： | 于利奇研究中心有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/327 | 分类号： | G01N27/327 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 杜荔南;刘春元 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 公开了一种用于制造用于证实分析物的装置的方法，该方法具有下列步骤：a）在绝缘衬底上布置具有电极功能的第一导体线路，b）在所述导体线路上布置第一钝化层，c）将所述钝化层限于局部地打开，使得导体线路限于局部地被露出，d）在开口中将牺牲层布置在所述导体线路上，e）在牺牲层上布置电极，f）将第二导体线路与第一导体线路正交地布置，其中第二导体线路接触电极，g）将第二钝化层布置在所述电极上以及第二导体线路上，h）将第二钝化层和电极打开，使得牺牲层被露出，i）除去牺牲层。同样公开了一种相应构造的装置及其应用。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 制造 证实 分析 装置 方法 以及 及其 应用 | ||
【主权项】：
用于制造用于证实分析物的装置的方法，该方法具有下列步骤：a）在绝缘衬底（1）上布置具有电极功能的第一导体线路（2），b）在所述导体线路上布置第一钝化层（3），c）将所述钝化层限于局部地打开，使得导体线路（2）限于局部地被露出，d）在开口中将牺牲层（4）布置在所述导体线路上， e）在牺牲层上布置电极（5）， f）将第二导体线路（6）与第一导体线路（2）正交地布置，其中第二导体线路（6）接触电极（5），g）将第二钝化层（7）布置在所述电极上以及第二导体线路上，h）将第二钝化层（7）和电极（5）打开，使得牺牲层（4）被露出，i）除去牺牲层（4）。
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