[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 201280008771.4 | 申请日: | 2012-01-24 |
公开(公告)号: | CN103370777A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 栗田大佑;吐田真一 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01L21/338 | 分类号: | H01L21/338;H01L21/60;H01L29/41;H01L29/778;H01L29/812 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 岳雪兰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 由在基板上依次层积的GaN层(1)、AlGaN层(2)和在基板上形成的栅极电极、源极电极、漏极电极以及AlGaN层(2)的有源区域形成异质结场效应晶体管。具有在该异质结场效应晶体管的有源区域以外的AlGaN层(2)上隔着绝缘膜(30形成的可焊接区域(31a)的漏极电极焊盘(31)与漏极电极连接。在AlGaN层(2)上并且在源极电极与漏极电极焊盘(31)的可焊接区域(31a)之间形成与栅极电极连接的栅极电极延伸部(14)。从而提供一种在不增大元件尺寸的情况下能够提高在无层间绝缘膜的绝缘膜上形成的漏极电极焊盘的可焊接区域与源极电极之间的耐压的半导体装置。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,包括:基板;半导体层(1,2,101,102),形成在所述基板上并包括有源区域;开关元件(S1,S2,S101),具有在所述半导体层(1,2,101,102)的所述有源区域上形成的栅极电极(13,113)、源极电极(11,111)及漏极电极(12,112);漏极电极焊盘(31,131),与所述漏极电极(12,112)连接,具有在所述半导体层(1,2,101,102)的所述有源区域以外的区域上隔着绝缘膜(30,130)形成的可焊接区域;栅极电极延伸部(14,114,115,116),形成在所述半导体层(1,2,101,102)上并且至少形成在所述源极电极(11,111)与所述漏极电极焊盘(31,131)的可焊接区域之间,与所述栅极电极(13,113)连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造