[发明专利]相变存储器中的单元状态确定有效
| 申请号： | 201280012580.5 | 申请日： | 2012-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN103415889B | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | A.潘塔齐;N.帕潘德里奥;C.波齐迪斯;A.塞巴斯蒂安;U.弗雷 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G11C13/00 | 分类号： | G11C13/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 周少杰 |
| 地址： | 美国纽*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了用于确定相变储存器单元（10）的状态的方法和装置。用时间变化的读取电压（Vread）偏置单元（10），然后进行测量（TM）。测量（TM）依赖于满足预定条件。该条件依赖于施加读取电压（Vread）期间的单元电流。然后测量（TM）用于确定单元（10）的状态。 | ||
| 搜索关键词： | 相变 存储器 中的 单元 状态 确定 | ||
【主权项】：
一种用于确定相变储存器单元(10)的状态的方法，所述方法包括：用时间变化的读取电压(Vread)偏置单元(10)；进行依赖于满足预定条件的时间测量(TM)，该条件依赖于施加读取电压期间的单元电流；以及依赖于所述时间测量确定单元(10)的状态，其中所述时间测量(TM)指示满足所述预定条件花费的时间，所述预定条件是单元电流从第一预定电流级别(IDL)变为第二预定电流级别(IDH)。
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