[发明专利]测试半导体电源开关的系统和方法无效
| 申请号： | 201280019522.5 | 申请日： | 2012-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN103492886A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | 帕特里克·黑林格 | 申请（专利权）人： | 飞思卡尔半导体公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 陈依虹;刘光明 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于测试包括功率组件的切割的半导体管芯（3）的测试构件（A）。所述构件包括可连接到电流源（5）的电流输入，用于给所述功率组件提供大于50安培的电流；可连接到信号分析器的信号输出（60），用于接收当提供所述电流时感测到的表示了所述功率组件的感测参数的信号；适于支撑所述半导体管芯（3）的第一接触单元（1）；相对于所述第一接触单元可移动安装的第二接触单元（2）；以及至少一个导电性弹性护套（4），适于当所述第二接触单元（2）在测试期间被带向所述半导体管芯（3）时被夹在所述半导体管芯（3）和所述第二接触单元（2）之间，所述护套当因此被夹住的时候形成了从所述电流输入通过所述管芯的至少一部分的电路径的一部分。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 半导体 电源开关 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测试包括高功率组件的切割的半导体管芯（3）的测试构件（A），所述构件包括：电流输入，所述电流输入可连接到电流源（5），用于向所述高功率组件提供高电流；第一接触单元（1），所述第一接触单元（1）适于支撑所述半导体管芯（3）；第二接触单元（2），所述第二接触单元（2）相对于所述第一接触单元可移动安装；至少一个导电性弹性护套（4），所述至少一个导电性弹性护套（4）适于当所述第二接触单元（2）在测试期间被带向所述半导体管芯（3）时被夹在所述半导体管芯（3）和所述第二接触单元（2）之间，所述护套（4）当因此被夹住时形成了从所述电流输入通过所述高功率组件的至少一部分的电路径的一部分。
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