[发明专利]用于自动RFID质量控制的系统和方法在审
| 申请号： | 201280020292.4 | 申请日： | 2012-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN103493073A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | C·马库斯;E·A·阿米乔 | 申请（专利权）人： | 艾利丹尼森公司 |
| 主分类号： | G06K19/07 | 分类号： | G06K19/07 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 赵蓉民;张全信 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明描述用于自动RFID质量控制过程的系统和方法。该方法可以包括用质量控制规格配置RFID制造印刷机、制造批次RFID内嵌物、在每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与质量控制规格比较，以及基于性能测试的结果确定该批次RFID标签通过状态或失败状态。该系统可以包括具有至少一条生产线的RFID制造印刷机、至少一个询问器天线和用于RFID制造印刷机的可编程控制逻辑，其中可编程控制逻辑适于在由制造印刷机输出的批次RFID内嵌物的每个RFID内嵌物上执行性能测试、将性能测试的结果与用户可配置的质量控制规格比较，以及确定该批次RFID内嵌物是否符合规格。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 自动 rfid 质量 控制 系统 方法 | ||
【主权项】：
用于具有一条或多条生产线的RFID制造印刷机的自动RFID质量控制的方法，包括：用质量控制规格配置所述RFID制造印刷机；制造批次RFID内嵌物；在所述批次RFID内嵌物中的每个RFID内嵌物上执行性能测试；将所述性能测试的结果与所述质量控制规格比较；以及基于所述性能测试的结果确定所述批次RFID内嵌物的通过状态或失败状态。
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