[发明专利]用于质量分析的方法和设备有效
| 申请号： | 201280024256.5 | 申请日： | 2012-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN103548111A | 公开（公告）日： | 2014-01-29 |
| 发明（设计）人： | J-P·哈奇尔德;O·兰格;U·弗勒利希;A·外格豪斯;A·霍洛弥夫;A·马卡洛夫 | 申请（专利权）人： | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/42 | 分类号： | H01J49/42;H01J49/38 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 姬利永 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 在此提供一种质量分析的方法和一种质谱仪，其中一个批次的离子积累在一个质量分析器中；使用镜像电流检测来检测该质量分析器中所积累的该批次离子以便提供一个检测到的信号；基于使用来自该质量分析器中所积累的一个先前批次的离子的镜像电流检测所获得的一个先前检测到的信号使用一种算法来控制该质量分析器中所积累的该批次离子中的离子数目；其中该算法的一个或多个参数是基于使用位于该质量分析器外部的一个独立检测器所获得的离子电流或电荷的一个测量值进行调整的。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 质量 分析 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于质量分析的方法，包括：在一个质量分析器中积累一个批次的离子；使用镜像电流检测来检测该质量分析器中所积累的该批次离子，以便提供一个检测到的信号；其中该方法包括基于一个先前检测到的信号使用一种算法来控制该质量分析器中所积累的该批次离子中的离子数目，该先前检测到的信号是使用来自该质量分析器中所积累的一个先前批次的离子的镜像电流检测所获得；并且其中该方法包括基于使用位于该质量分析器外部的一个独立检测器所获得的离子电流或电荷的一个测量值来调整该算法的一个或多个参数。
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