[发明专利]磁特性测定方法以及磁特性测定装置有效

专利信息
申请号: 201280025932.0 申请日: 2012-05-24
公开(公告)号: CN103562714A 公开(公告)日: 2014-02-05
发明(设计)人: 西泽佑司;原园学;冈田典久;四辻淳一 申请(专利权)人: 杰富意钢铁株式会社
主分类号: G01N27/72 分类号: G01N27/72;G01N27/82
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明目的在于,即使在产生提离量的变动时,也能够稳定地测定钢板的局部磁特性分布,磁特性测定方法包含:预先取得事先测定用被检体的健全部中的磁敏元件的输出与磁敏元件的提离量之间的关系LS(l)作为健全部提离数据的步骤;预先取得事先测定用被检体的缺陷部中的磁敏元件的输出与磁敏元件的提离量之间的关系LP(l)作为缺陷部提离数据的步骤;测定步骤,测定被检体中的磁敏元件的输出x与获得输出x时的磁敏元件的提离l;以及校正步骤,采用健全部提离数据、缺陷部提离数据和在测定步骤中测定出的提离量对在测定步骤中测定的被检体中的磁敏元件的输出x进行校正运算。
搜索关键词: 特性 测定 方法 以及 装置
【主权项】:
一种磁特性测定方法,其特征在于,包含:预先取得事先测定用被检体的健全部中的磁敏元件的输出与所述磁敏元件的提离量之间的关系作为健全部提离数据的步骤;预先取得所述事先测定用被检体的缺陷部中的磁敏元件的输出与所述磁敏元件的提离量之间的关系作为缺陷部提离数据的步骤;测定步骤,测定被检体中的磁敏元件的输出与获得该输出时的所述磁敏元件的提离量;以及校正步骤,采用所述健全部提离数据、所述缺陷部提离数据和在所述测定步骤中测定出的提离量,对在所述测定步骤中测定出的所述磁敏元件的输出进行校正运算。
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