[发明专利]SiC单晶体的制造装置以及SiC单晶体的制造方法在审

专利信息
申请号: 201280027428.4 申请日: 2012-06-15
公开(公告)号: CN103620094A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 楠一彦;龟井一人;矢代将齐;冈田信宏;大黑宽典;加渡干尚;坂元秀光 申请(专利权)人: 新日铁住金株式会社;丰田自动车株式会社
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B19/06
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于提供能够对安装于籽晶轴的晶种高效地进行冷却的SiC单晶体的制造装置。该制造装置具备:坩埚(14),其用于容纳Si-C溶液(16);以及籽晶轴(30),具有供SiC晶种(36)安装的下端面(34)。籽晶轴包括:内管(48),其在坩埚的高度方向上延伸,在自身内侧形成第1流路(60);外管(50),其容纳内管,在该外管(50)与内管之间形成第2流路(SP1);以及底部,其覆盖外管的下端开口且具有下端面。第1流路以及第2流路中的一者是供冷却气体向下方流动的导入流路,另一者是供冷却气体向上方流动的排出流路。从籽晶轴的轴向观察,SiC晶种的60%以上的区域与形成导入流路的管的内侧的区域重叠。
搜索关键词: sic 单晶体 制造 装置 以及 方法
【主权项】:
一种制造装置,其是SiC单晶体的制造装置,该制造装置包括:坩埚,其用于容纳Si-C溶液;以及籽晶轴,其具有供SiC晶种安装的下端面,上述籽晶轴包括:内管,其在自身内侧形成第1流路;外管,其容纳上述内管,在该外管与上述内管之间形成第2流路;以及底部,其覆盖上述外管的下端开口且具有上述下端面,上述第1流路以及上述第2流路中的一者是供冷却气体向下方流动的导入流路,另一者是供上述冷却气体向上方流动的排出流路,从上述籽晶轴的轴向观察,上述SiC晶种的60%以上的区域与形成上述导入流路的管的内侧区域重叠。
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