[发明专利]用PECVDSiO2钝化保护(passivation)制造铟镓锌氧化物(IGZO)和氧化锌(ZNO)薄膜晶体管的方法有效

专利信息
申请号: 201280028759.X 申请日: 2012-06-08
公开(公告)号: CN103620788B 公开(公告)日: 2017-06-30
发明(设计)人: J·J·陈;崔寿永;任东吉;Y·叶 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/336
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司31100 代理人: 陆嘉
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明大体上关于一种制造薄膜晶体管的方法。薄膜晶体管具有包括铟镓锌氧化物(IGZO)或氧化锌的有源沟道。在形成源极电极与漏极电极之后,但在保护层或蚀刻停止层沉积于其上之前,将该有源沟道暴露于一氧化二氮(N2O)等离子体或氧气等离子体。在形成源极电极与漏极电极的过程中,有源沟道与保护层或蚀刻停止层之间的界面会有所改变或损坏。一氧化二氮等离子体或氧气等离子体改变并修复有源沟道与保护层或蚀刻停止层之间的界面。
搜索关键词: pecvd sio sub 钝化 保护 passivation 制造 铟镓锌 氧化物 igzo
【主权项】:
一种形成薄膜晶体管的方法,包括:沉积有源层于薄膜晶体管中的基板之上;沉积导电层于所述有源层之上;图案化所述导电层以形成源极电极及漏极电极,其中暴露出有源层的一部分;以及以一氧化二氮(N2O)等离子体或氧气(O2)等离子体处理来修复所述有源层的所述部分,其中所述有源层包括选自由氧化锌、铟镓锌氧化物(IGZO)及其组合所组成的群组的材料。
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