[发明专利]III族氮化物半导体激光元件无效

专利信息
申请号: 201280029797.7 申请日: 2012-07-18
公开(公告)号: CN103620895A 公开(公告)日: 2014-03-05
发明(设计)人: 住友隆道;上野昌纪;善积祐介;吉田乔久;足立真宽 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: H01S5/323 分类号: H01S5/323
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 李亚;穆德骏
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在具有在包含开口的电流限制层上再生长有p型包覆层的结构的III族氮化物半导体激光元件中,减小由存在于半极性的再生长界面的n型杂质引起的影响。半导体激光元件(10)具有n型半导体区域(14)、活性层(16)、第一p型半导体区域(18)、电流限制层(20)以及第二p型半导体区域(22)。第二p型半导体区域(22)是在形成电流限制层(20)的开口(20a)之后再生长在第一p型半导体区域(18)上和电流限制层(20)上的区域。第一p型半导体区域(18)中的与第二p型半导体区域(22)的界面包含III族氮化物半导体的半极性面。第一p型半导体区域(18)具有构成第一p型半导体区域(18)与第二p型半导体区域(22)之间的界面且具有1×1020cm-3以上的p型杂质浓度的高浓度p型半导体层(18c)。
搜索关键词: iii 氮化物 半导体 激光 元件
【主权项】:
一种III族氮化物半导体激光元件,其特征在于,具有:n型半导体区域,由n型的III族氮化物半导体构成;活性层,由III族氮化物半导体构成,设置在所述n型半导体区域上;第一p型半导体区域,由p型的III族氮化物半导体构成,设置在所述活性层上;电流限制层,设置在所述第一p型半导体区域上,具有在预定的激光谐振方向上延伸的开口;以及第二p型半导体区域,由p型的III族氮化物半导体构成,在形成所述电流限制层的所述开口之后,再生长在所述第一p型半导体区域上和电流限制层上,所述第一p型半导体区域中的与所述第二p型半导体区域的界面具有该III族氮化物半导体的半极性面,所述第一p型半导体区域和第二p型半导体区域中的至少一个具有构成所述第一p型半导体区域与所述第二p型半导体区域之间的界面且具有1×1020cm‑3以上的p型杂质浓度的高浓度p型半导体层。
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