[发明专利]用于光学地检测气体混合物中的目标气体的设备有效
| 申请号： | 201280030237.3 | 申请日： | 2012-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN103620377B | 公开（公告）日： | 2016-10-26 |
| 发明（设计）人： | 布克哈德·施托克;尼尔斯·哈克;维尔弗里德·迪克曼;比约恩·朗格 | 申请（专利权）人： | 德雷格安全股份两合公司 |
| 主分类号： | G01N21/03 | 分类号： | G01N21/03;G01N21/3504;G01N21/15;G01N21/09;G01N21/31 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;李慧 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及了一种用于光学检测气体混合物中的目标气体的设备，该设备带有运行和评估装置（8）和测量比色计（3），该测量比色计设计为内壁上带有光学反射表面的多反射测量比色计并且具有气体入口（5），该气体入口设计用于与测量环境（6）交换气体和气体混合物，其中在测量比色计（3）上设置有将光射入测量比色计中的辐射源（4）、测量探测器（21）以及参考探测器装置（23，25，27），其中，测量探测器（21）和参考探测器装置（23，25，27）设计用于检测辐射源（4）的光并且将其转换成电信号，该电信号与所检测到的光强度相符，其中在测量探测器（21）之前布置有光学带通滤波件（22），其设计用于允许测量波长的光通过，其中在参考探测器装置（23，25，27）之前布置有光学的双带通滤波装置（24，26，28），其设计用于允许第一参考波长（31）的光和第二参考波长（32）的光通过，并且其中运行和评估装置（8）设计用于运行辐射源（4）并检测测量探测器（21）和参考探测器装置（23，25，27）的电信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 检测 气体 混合物 中的 目标 设备 | ||
【主权项】：
一种用于光学地检测气体混合物中的目标气体的设备，带有运行和评估装置(8)和测量比色计(3)，所述测量比色计设计为内壁上带有光学反射表面的多反射测量比色计并且具有气体入口(5)，所述气体入口设计用于与测量环境(6)交换气体和气体混合物，其中，在所述测量比色计(3)上设置有将光发射到所述测量比色计中的辐射源(4)、测量探测器(21)以及参考探测器装置(23，25，27)，其中，所述测量探测器(21)和所述参考探测器装置(23，25，27)设计用于检测所述辐射源(4)的光并且将所述光转换成电信号，所述电信号与所检测到的光的强度相符，其中，在所述测量探测器(21)之前布置有光学的带通滤波件(22)，所述带通滤波件设计用于允许测量波长(30)的光通过，其中，在所述参考探测器装置(23，25，27)之前布置有光学的双带通滤波装置(24，26，28)，所述双带通滤波装置设计用于允许第一参考波长(31)的光和第二参考波长(32)的光通过，以及其中，所述运行和评估装置(8)设计用于运行所述辐射源(4)并且检测所述测量探测器(21)和所述参考探测器装置(23，25，27)的所述电信号。
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