[发明专利]核酸扩增装置和核酸分析装置有效
申请号: | 201280031142.3 | 申请日: | 2012-05-31 |
公开(公告)号: | CN103635568A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
发明(设计)人: | 前田耕史;杉山千枝;庄司义之;石泽雅人;佐野稔 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | C12M1/00 | 分类号: | C12M1/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶;於毓桢 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 常规方法中,在能够单独控制温度的温度控制模块的温度绝对值的修正中使用校正完的温度测定探头的情况下,温度控制模块间残留有最大为0.5℃的温度差。与此相对,本发明将对应于各温度控制模块的各反应容器中容纳的温度校正试样的熔解温度作为测定熔解温度进行测定。然后,将对应于各温度控制模块的测定熔解温度与温度校正试样的标准熔解温度进行比较,从而基于各差值对各温度控制模块的温度绝对值进行修正。 | ||
搜索关键词: | 核酸 扩增 装置 分析 | ||
【主权项】:
一种核酸扩增装置,其特征在于,具有:多个能够单独控制温度的温度控制模块,对通过各温度控制模块进行温度管理的反应容器内的试样实时进行荧光测定的实时荧光测定部,对分注到用各温度控制模块进行温度管理的1个或多个反应容器中的温度校正试样的标准熔解温度进行存储的存储部,将对应于各温度控制模块的各反应容器中容纳的温度校正试样的熔解温度作为测定熔解温度进行测定的熔解温度测定部,以及将对应于各温度控制模块的测定熔解温度与所述标准熔解温度进行比较,从而基于各差值对各温度控制模块的温度绝对值进行修正的温度修正部。
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