[发明专利]层叠型电子元器件的层叠方向判定方法、层叠型电子元器件的层叠方向判定装置、层叠型电子元器件带的制造方法、以及层叠型电子元器件带的制造装置有效
| 申请号： | 201280032673.4 | 申请日： | 2012-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN103636301B | 公开（公告）日： | 2016-10-12 |
| 发明（设计）人： | 冈村幸辉 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 俞丹 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种能正确地判定层叠型电子元器件的导体层的层叠方向的层叠型电子元器件的层叠方向判定方法、层叠方向判定装置、将层叠型电子元器件的导体层的层叠方向朝一定方向对齐的层叠型电子元器件带的制造方法、以及层叠型电子元器件连的制造装置。层叠型电子元器件的层叠方向判定装置(3)包括测定单元(11、12)和判定单元(13)。测定单元(11、12)获取与从用于对导体层和非导体层层叠而成的层叠型电子元器件(200)进行观察的观察面检测到的红外线能量相关的测定值。判定单元(13)设定对应于测定条件的阈值，将该阈值与测定值进行比较，并基于该比较结果来判定层叠型电子元器件(200)的导体层的层叠方向。 | ||
| 搜索关键词： | 层叠 电子元器件 方向 判定 方法 装置 制造 以及 | ||
【主权项】：
一种层叠型电子元器件的层叠方向判定方法，其特征在于，包括：测定工序，在该测定工序中，在预先设定的测定条件下利用红外线照相机或辐射温度计来获取与从包含用于对导体层和非导体层层叠而成的层叠型电子元器件进行观察的观察面在内的区域检测到的红外线能量相关的测定值；以及判定工序，在该判定工序中，在所述测定条件下对形状及特性与被测定对象的层叠型电子元器件相同、导体层的层叠方向为已知的基准层叠型电子元器件进行测定的情况下，基于与从所述基准层叠型电子元器件的观察面检测到的红外线能量相关的测定值来设定阈值，将该阈值与所述测定值进行比较，并基于该比较结果来判定所述层叠型电子元器件的导体层的层叠方向。
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