[发明专利]用于处理晶片及清洁腔室的感应等离子体源无效

专利信息
申请号: 201280034888.X 申请日: 2012-07-26
公开(公告)号: CN103688338A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: Q·梁 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: H01L21/205 分类号: H01L21/205;H01L21/3065
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陆嘉
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明描述用于在基板上沉积材料的方法及系统。一种方法可包括以下步骤:提供处理腔室,该处理腔室分隔成第一等离子体区域及第二等离子体区域。方法可进一步包括以下步骤:将基板输送至处理腔室,其中该基板可占据第二等离子体区域的一部分。方法可额外包括以下步骤:在第一等离子体区域中形成第一等离子体,其中该第一等离子体可能未直接接触基板,且该第一等离子体可通过启动第一等离子体区域上方的至少一个成形的射频(「RF」)线圈形成。此外,方法可包括以下步骤:在基板上沉积材料以形成层,其中受第一等离子体激发的一或更多种反应物可用于沉积该材料。
搜索关键词: 用于 处理 晶片 清洁 感应 等离子体
【主权项】:
一种在基板上沉积材料的方法,所述方法包含以下步骤:提供处理腔室,所述处理腔室分隔成第一等离子体区域及第二等离子体区域;将所述基板输送至所述处理腔室,其中所述基板占据所述第二等离子体区域的一部分;在所述第一等离子体区域中形成第一等离子体,其中:所述第一等离子体未直接接触所述基板;以及所述第一等离子体通过激活所述第一等离子体区域上方的至少一个成形的射频(“RF”)线圈形成;以及在所述基板上沉积所述材料以形成层,其中受所述第一等离子体激发的一种或更多种反应物用于沉积所述材料。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料公司,未经应用材料公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201280034888.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top