[发明专利]叠层型光电转换装置的制造方法有效
申请号: | 201280039241.6 | 申请日: | 2012-08-10 |
公开(公告)号: | CN103733356A | 公开(公告)日: | 2014-04-16 |
发明(设计)人: | 松田高洋;大谷哲史;后藤雅博 | 申请(专利权)人: | 株式会社钟化 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/20 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张永新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种具有前方光电转换单元(3)和后方光电转换单元(4)的叠层型光电转换装置的制造方法。前方光电转换单元的逆导电型层(33)的与后方光电转换单元(4)相接的一侧,是在含有硅和氧的非晶体合金中混合存在有硅结晶相的硅复合层。在本发明中,前方光电转换单元的硅复合层形成后,不取出至大气中,而是在同一制膜室内,形成后方光电转换单元(4)的晶体的一导电型层(41)以及晶体硅类光电转换层(42)。晶体硅类光电转换层(42)的形成开始时的功率密度,优选为前方光电转换单元的硅复合层形成时的功率密度的0.1倍以上且小于1倍的范围。 | ||
搜索关键词: | 叠层型 光电 转换 装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种叠层型光电转换装置的制造方法,所述叠层型光电转换装置从光入射侧至少具有前方光电转换单元和后方光电转换单元,其中,所述叠层型光电转换装置的制造方法包括:通过等离子体CVD法形成前方光电转换单元的工序,和在所述前方光电转换单元上,通过等离子体CVD法形成后方光电转换单元的工序,所述前方光电转换单元形成工序中,依次形成一导电型层、实质上本征的非晶体硅类光电转换层、以及逆导电型层,并且前方光电转换单元的逆导电型层的至少与后方光电转换单元相接的一侧,是在含有硅和氧的非晶体合金中混合存在有硅结晶相的硅复合层,所述后方光电转换单元形成工序中,依次形成晶体的一导电型层、实质上本征的晶体硅类光电转换层、以及逆导电型层,形成所述硅复合层后,不取出至大气中,而是在同一制膜室内,形成后方光电转换单元的晶体的一导电型层和晶体硅类光电转换层,所述后方光电转换单元的晶体硅类光电转换层的碳浓度为1×1017atm/cm3以下,氧浓度为2×1018atm/cm3以下。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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