[发明专利]干扰源分析方法及装置有效
| 申请号： | 201280040464.4 | 申请日： | 2012-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN103959838B | 公开（公告）日： | 2017-11-17 |
| 发明（设计）人： | 闫龙 | 申请（专利权）人： | 华为技术服务有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/00 | 分类号： | H04W24/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 065000 河北省*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种干扰源分析方法及装置，该方法包括获取测量数据；选择一种干扰源分析模型对测量数据进行频域相关性分析以确定测量数据与干扰源分析模型是否相关，如果测量数据与干扰源分析模型相关，则确定待分析频段中存在与干扰源分析模型对应的干扰源；否则，则确定待分析频段中不存在与干扰源分析模型对应的干扰源。本发明实施例提供的干扰源分析方法，根据不同的干扰源分析模型分析干扰源类型，大大提高上行干扰等位准确性及排查效率，对互调、CDMA、宽带、频点其他运营商乃至其他干扰做到快速、准确的定位，分析出干扰源类型以提高网络质量。 | ||
| 搜索关键词： | 干扰 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种干扰源分析方法，其特征在于，包括：获取测量数据，所述测量数据为对待分析频段进行频点扫描或对所述待分析频段进行频率分配支持FAS统计得到的；选择一种干扰源分析模型对所述测量数据进行频域相关性分析以确定所述测量数据与所述干扰源分析模型是否相关；如果所述测量数据与所述干扰源分析模型相关，则确定所述待分析频段中存在与所述干扰源分析模型对应的干扰源；否则，则确定所述待分析频段中不存在与所述干扰源分析模型对应的干扰源，其中，所述干扰源分析模型包括已知干扰频点结果模型和全频点遍历自适应干扰模型；所述获取测量数据，包括：在第一时段对所述待分析频段进行频点扫描或FAS统计以得到第一测量数据；在第二时段对所述待分析频段进行频点扫描或FAS统计以得到第二测量数据；在第三时段对所述待分析频段进行频点扫描或FAS统计以得到第三测量数据；计算所述第一测量数据与所述第二测量数据的第一差值；计算所述第二测量数据与所述第三测量数据的第二差值。
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