[发明专利]接近度传感器校准有效
| 申请号： | 201280041534.8 | 申请日： | 2012-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN103782194A | 公开（公告）日： | 2014-05-07 |
| 发明（设计）人： | 利奥尼德·希亚恩布拉特;契纳·巴亚普雷迪;吴勇澈 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/32 | 分类号： | G01S17/32;G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 宋献涛 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本文揭示的标的物涉及用以测量距表面的距离的接近度传感器，且更特定来说涉及校准接近度传感器以针对各种反射表面进行调整。 | ||
| 搜索关键词： | 接近 传感器 校准 | ||
【主权项】：
一种方法，其包括：在传感器处检测针对表面而反射的信号的峰强度；以及至少部分地基于将所述检测到的峰强度应用于参考曲线来近似从所述传感器到所述表面的范围的函数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于高通股份有限公司，未经高通股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201280041534.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种集成式微阵列电极的制备方法
- 下一篇：加劲套管混凝土屈曲约束支撑
