[发明专利]成膜材料、使用该成膜材料的密封膜、及其用途有效
申请号: | 201280043228.8 | 申请日: | 2012-08-24 |
公开(公告)号: | CN103781937B | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 原大治;清水真乡 | 申请(专利权)人: | 东曹株式会社 |
主分类号: | C23C16/42 | 分类号: | C23C16/42;H01L21/312;H01L21/316;C07F7/08 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 沈雪 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及使用具有至少一个与硅原子直接键合的仲烃基,且具有氧原子相对于硅原子1为0.5以下的原子比这样的特定结构的有机硅化合物作为原料,以由通过CVD形成的含碳氧化硅形成的膜作为密封膜,用于气体阻隔部件、FPD器件、半导体器件等。 | ||
搜索关键词: | 材料 使用 密封 及其 用途 | ||
【主权项】:
一种气体阻隔部件,其使用成膜材料并通过化学气相沉积法而成膜的密封膜作为气体阻隔层,所述成膜材料含有下述有机硅化合物,所述有机硅化合物具有至少一个与硅原子直接键合的仲烃基,且具有氧原子相对于硅原子1为0.5以下的原子比,所述有机硅化合物为1,3‑二异丙基二硅氧烷、1,3‑二异丙基‑1,3‑二甲基二硅氧烷、1,3‑二异丙基‑1,1,3,3‑四甲基二硅氧烷、1,3‑二仲丁基二硅氧烷、1,3‑二仲丁基‑1,3‑二甲基二硅氧烷、1,3‑二仲丁基‑1,1,3,3‑四甲基二硅氧烷、异丙基甲基硅烷、异丙基二甲基硅烷、二异丙基硅烷、二异丙基甲基硅烷、三异丙基硅烷、仲丁基硅烷、仲丁基甲基硅烷、仲丁基二甲基硅烷、二仲丁基硅烷、二仲丁基甲基硅烷、三仲丁基硅烷、1,2,3,4‑四异丙基环四硅烷、1,2,3,4,5‑五异丙基环五硅烷、1,2,3,4,5,6‑六异丙基环六硅烷、1,1,2,2,3,3,4,4‑八异丙基环四硅烷、1,1,2,2,3,3,4,4,5,5‑十异丙基环五硅烷、或1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6‑十二异丙基环六硅烷。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
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