[发明专利]电流检测装置无效
申请号: | 201280045380.X | 申请日: | 2012-09-18 |
公开(公告)号: | CN103814297A | 公开(公告)日: | 2014-05-21 |
发明(设计)人: | 山口达之 | 申请(专利权)人: | 丰田自动车株式会社;株式会社东海理化电机制作所 |
主分类号: | G01R15/20 | 分类号: | G01R15/20;G01R19/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 李兰;孙志湧 |
地址: | 日本爱知*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在第一路径中形成其延伸方向按照+z、+x、+z、-x的顺序改变的第一弯曲部,其中,两个电流路径并行延伸的方向作为x-y-z坐标系的z方向,并且在第二电流路径中形成其延伸方向按照+z、+y、+z、-y和+z的顺序改变的第二弯曲部。第一弯曲部的中间部分的z坐标范围和第二弯曲部的中间部分的z坐标范围中的任一个包括另一个,并且检测x方向磁通量密度和y方向磁通量密度的磁通量密度检测装置被放置在被包括的z坐标范围内。 | ||
搜索关键词: | 电流 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种电流检测装置,所述电流检测装置检测通过第一电流路径和第二电流路径中的每一个的电流的值,所述第一电流路径和所述第二电流路径每一个都具有弯曲部并且除所述弯曲部之外并行地延伸,所述电流检测装置包括:被形成为所述第一电流路径中的所述弯曲部的x方向弯曲部,所述x方向弯曲部的延伸方向按照+z、+x、+z、‑x和+z的顺序改变,其中,所述第一电流路径和所述第二电流路径并行延伸的方向作为x‑y‑z正交坐标系的z方向;被形成为所述第二电流路径中的所述弯曲部的y方向弯曲部,所述y方向弯曲部的延伸方向按照+z、+y、+z、‑y和+z的顺序改变;y方向磁通量密度检测装置,所述y方向磁通量密度检测装置被放置在下述区域中,所述区域处于包括所述x方向弯曲部的x‑z平面上并且位于在所述第一电流路径的+x方向上延伸的+x部分与在所述第一电流路径的‑x方向上延伸的‑x部分之间;x方向磁通量密度检测装置,所述x方向磁通量密度检测装置被放置在下述区域中,所述区域处于包括所述y方向弯曲部的y‑z平面上并且位于在所述第二电流路径的+y方向上延伸的+y部分与在所述第二电流的‑y方向上延伸的‑y部分路径之间;以及磁性材料的框架,所述磁性材料的框架围绕所述x方向弯曲部和所述y方向弯曲部。
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