[发明专利]溅射用烧结体氧化镁靶及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201280045787.2 申请日: 2012-12-25
公开(公告)号: CN103814152A 公开(公告)日: 2014-05-21
发明(设计)人: 久野晃;中村祐一郎 申请(专利权)人: 吉坤日矿日石金属株式会社
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C04B35/053
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 王海川;穆德骏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种溅射用烧结体氧化镁靶,其特征在于,除C以外的纯度为99.99重量%以上,并且具有3.57g/cm3以上的密度,白度为60%以下。为了使氧化镁均匀地成膜,需要纯度更高、密度更高的氧化镁靶。本发明的课题在于提供可以实现该目标的靶及其制造方法。另外,虽然对原料粉末进行热压而制造了氧化镁烧结体溅射靶,但存在在靶的中央部的约60(直径60mm的圆内)产生颜色不均的问题。以往未曾特别着眼于这样的问题,但从近年来提高成膜品质的观点考虑,需要探明该问题,需要找到解决该问题的手段。
搜索关键词: 溅射 烧结 氧化镁 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种溅射用烧结体氧化镁靶,其特征在于,除C以外的纯度为99.99重量%以上,并且具有3.57g/cm3以上的密度,白度为60%以下。
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