[发明专利]用于借助霍尔传感器的相对位置非接触式测量的方法有效

专利信息
申请号: 201280047390.7 申请日: 2012-09-25
公开(公告)号: CN103988052B 公开(公告)日: 2017-03-01
发明(设计)人: O.沙夫 申请(专利权)人: 泰连德国有限公司
主分类号: G01D5/14 分类号: G01D5/14;G01D5/244
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 吴艳
地址: 德国本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及用于彼此相关的产生磁场的磁场源(102)和磁场传感器(100)的相对位置的非接触式测量的方法。本发明还进一步涉及相应的位移传感器。根据本发明,磁场传感器(100)检测该磁场的至少两个空间分量(Bz,By)以及从测得的分量产生的位置信号。该方法包括以下步骤基于两个磁场分量的商计算位置信号;在计算商值之前校正沿磁场源(102)和磁场传感器(100)之间的运动方向延伸的磁场分量。
搜索关键词: 用于 借助 霍尔 传感器 相对 位置 接触 测量 方法
【主权项】:
用于彼此相关的产生磁场的磁场源和磁场传感器的相对位置的非接触式测量的方法,所述磁场源和磁场传感器能够通过直线运动而相对于彼此移动,所述磁场传感器检测所述磁场的沿磁场源和磁场传感器之间的相对运动方向延伸的一个磁场分量、和横向于所述相对运动方向延伸的一个磁场分量、以及从测得的磁场分量产生的位置信号,并且所述方法包括下列的步骤:基于两个磁场分量的商计算位置信号,在计算商值之前校正沿磁场源和磁场传感器之间的运动方向延伸的磁场分量,其中必要校正的值由下列步骤确立:依据位置值建立运动方向上的磁场分量的线;根据所述位置值计算所述线的二阶导数并且确定二阶导数的0点位置;从在最小间距的位置处的函数值减去所述线在0点位置处的函数值以计算用于校正的偏移值。
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