[发明专利]显示器变形检测无效
| 申请号： | 201280047503.3 | 申请日： | 2012-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN103827798A | 公开（公告）日： | 2014-05-28 |
| 发明（设计）人： | J·G·乌泽尔;A·阿-达勒尔;毕亚飞 | 申请（专利权）人： | 苹果公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 宋海宁 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明所公开的实施例涉及显示器变形检测系统(14)，所述显示器变形检测系统基于电阻和/或电容的变化来检测显示器变形。在一个实施例中，一种方法包括测量基线，所述基线包括设置在所述显示面板(12)内或覆盖在所述显示面板(12)上的导电网(100)的基线电阻或基线电容或两者。所述方法还包括检测所述基线电阻或所述基线电容或两者的变化并计算发生所述基线电阻或所述基线电容或两者的所述变化的变化位置。所述方法还包括计算所述基线电阻或所述基线电容或两者的所述变化的大小。 | ||
| 搜索关键词： | 显示器 变形 检测 | ||
【主权项】：
一种检测显示面板的变形的方法，包括：检测设置在所述显示面板内或覆盖在所述显示面板上的导电网的基线电阻或基线电容或基线电阻和基线电容两者的变化；计算发生所述基线电阻或所述基线电容或两者的所述变化的变化位置；以及计算所述基线电阻或所述基线电容或两者的所述变化的大小。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苹果公司，未经苹果公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201280047503.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
