[发明专利]用于制造光电子半导体芯片的方法和光电子半导体芯片有效
申请号: | 201280048248.4 | 申请日: | 2012-08-23 |
公开(公告)号: | CN103843161B | 公开(公告)日: | 2017-05-03 |
发明(设计)人: | 约阿希姆·赫特功;卡尔·恩格尔;贝特霍尔德·哈恩;安德烈亚斯·魏玛 | 申请(专利权)人: | 欧司朗光电半导体有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/22;H01L21/02 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 丁永凡,张春水 |
地址: | 德国雷*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在方法的至少一个实施形式中,所述方法设立为用于制造光电子半导体芯片(10)、尤其是发光二极管。所述方法包括下述步骤提供生长衬底(1);借助于溅镀在生长衬底(1)上生成III族氮化物成核层(3);以及在成核层(3)上或在成核层(3)上方生长具有有源层(2a)的III族氮化物半导体层序列(2),其中生长衬底(1)的材料与成核层(3)的和/或半导体层序列(2)的材料不同。 | ||
搜索关键词: | 用于 制造 光电子 半导体 芯片 方法 | ||
【主权项】:
一种用于制造光电子半导体芯片(10)的方法,具有下述步骤:‑提供生长衬底(1);‑借助于溅镀在所述生长衬底(1)上生成III族氮化物成核层(3),其中所述生长衬底(1)的材料不同于所述成核层(3)的材料;以及‑使具有有源层(2a)的III族氮化物半导体层序列(2)生长到所述成核层(3)上,其中对所述成核层(3)添加氧并且所述成核层(3)中的氧份额沿远离所述生长衬底(1)的方向单调地减少。
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