[发明专利]用于测量空间点的方法有效

专利信息
申请号: 201280053354.1 申请日: 2012-11-29
公开(公告)号: CN103917892A 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 雷托·施图茨;贝亚特·埃比舍尔;马塞尔·罗纳;I·贝德纳雷克 申请(专利权)人: 赫克斯冈技术中心
主分类号: G01S17/42 分类号: G01S17/42;G01S17/89;G01C15/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王小东
地址: 瑞士赫*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 发明涉及一种用于通过激光扫描仪(1)测量空间点的方法,该方法具有如下步骤:扫描对象(2,2’)上的多个空间点;确定各个空间点的坐标(r,θ,),其中所述激光扫描仪(1)形成坐标原点,并且所述坐标包括距离(r)和至少一个角度(θ,);围绕中央空间点(S)确定附近范围(N),该附近范围(N)具有至少两个空间点,这至少两个空间点的角度坐标(θ,)在确定的角度空间中与所述中央空间点(S)的角度坐标相邻;将所确定的附近范围(N)中的空间点的坐标(r,θ,)汇总;以及将所述中央坐标点(S)的坐标(r,θ,)替换为所确定的附近范围(N)中的空间点的坐标(r,θ,)的汇总。本发明还涉及用于执行这种方法的激光扫描仪(1)的用途、具有适合于执行该方法的激光扫描仪(1)的系统以及用于执行该方法的计算机程序产品。
搜索关键词: 用于 测量 空间 方法
【主权项】:
一种用于通过激光扫描仪(1)测量空间点的方法,该方法具有如下步骤:·扫描对象(2,2’)的多个空间点;和·确定各个空间点的坐标(r,θ,),其中所述激光扫描仪(1)形成坐标原点,并且所述坐标包括距离(r)和两个角度(θ,),其特征在于,·围绕中央空间点(S)确定二维附近范围(N),该二维附近范围(N)具有■至少两个空间点,这至少两个空间点的第一角度坐标(θ)在确定的角度空间中与所述中央空间点(S)的第一角度坐标相邻;和■至少两个空间点,这至少两个空间点的第二角度坐标()在确定的角度空间中与所述中央空间点(S)的第二角度坐标相邻;·将所确定的附近范围(N)中的空间点的坐标(r,θ,)汇总;以及·将所述中央空间点(S)的坐标(r,θ,)替换为所确定的附近范围(N)中的空间点的坐标(r,θ,)的汇总。
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