[发明专利]缺陷字线检测无效
| 申请号： | 201280054724.3 | 申请日： | 2012-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN104094356A | 公开（公告）日： | 2014-10-08 |
| 发明（设计）人： | 堺学;三轮达 | 申请（专利权）人： | 桑迪士克技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 唐京桥;李春晖 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了用于检测字线中的缺陷的方法和非易失性存储系统。可以检测“断”字线缺陷。可以保持关于哪些存储元件是用来被编程至追踪状态的信息。然后，在编程完成之后，读取存储元件以确定哪些存储元件具有在与追踪状态相关联的参考电压电平之下的阈值电压。通过追踪哪些存储元件处于追踪状态，可以过滤出与其他状态相关联的元件，使得可以精确估计哪些存储元件是编程不足的。根据该信息，可以确定字线是否为有缺陷的。例如，如果太多的存储元件是编程不足的，则这可以指示断字线。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 | ||
【主权项】：
一种用于操作非易失性存储器的方法，包括：编程与字线相关联的一组非易失性存储元件，所述非易失性存储元件被编程至多个数据状态(1002)；在所述编程完成之后保持信息，所述信息指示所述非易失性存储元件中的哪些非易失性存储元件被用来编程至所述多个数据状态中的第一数据状态(1004)；在所述编程之后将第一参考电压施加到所述字线的第一端，所述第一参考电压与所述第一数据状态相关联(1006)；确定施加所述参考电压的结果(1008)；以及基于所述结果和保持的所述信息来确定所述字线是否具有异常高的电阻部分(1010)。
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