[发明专利]溅射靶及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201280054849.6 申请日: 2012-11-01
公开(公告)号: CN103917689A 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 张守斌;小路雅弘 申请(专利权)人: 三菱综合材料株式会社
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;B22F3/14;H01L31/0445
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 康泉;王珍仙
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种能够通过溅射法形成良好地添加有Na的由Cu-In-Ga-Se构成的膜的溅射靶及其制造方法。本发明的溅射靶具有如下的成分组成:含有Cu、In、Ga及Se,另外,以NaF化合物、Na2S化合物或Na2Se化合物中的至少一种状态并以Na/(Cu+In+Ga+Se+Na)×100:0.05~5原子%的比例来含有Na,氧浓度为200~2000重量ppm,剩余部分由不可避免的杂质构成。
搜索关键词: 溅射 及其 制造 方法
【主权项】:
一种溅射靶,其特征在于,所述溅射靶具有如下的成分组成:含有Cu、In、Ga及Se,另外,以NaF化合物、Na2S化合物或Na2Se化合物中的至少一种状态并以Na/(Cu+In+Ga+Se+Na)×100:0.05~5原子%的比例来含有Na,氧浓度为200~2000重量ppm,剩余部分由不可避免的杂质构成。
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