[发明专利]制造封装装置的方法有效
申请号: | 201280057764.3 | 申请日: | 2012-10-23 |
公开(公告)号: | CN103958394A | 公开(公告)日: | 2014-07-30 |
发明(设计)人: | L·戴尔翁;S·达拉皮亚扎;T·黑塞勒 | 申请(专利权)人: | 微晶公司 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 雷明;吴鹏 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | 本发明涉及一种元件(2、4、44、64),该元件布置成与另一零件(4、2)配合以形成用于部件(5)的封装装置(3),所述元件包括至少部分地涂覆有金属化部分(11、9、49、69)的元件(2、4)。根据本发明,所述金属化部分包括由金属间化合物(19、59、79)保护的至少一个金属层(15),所述金属间化合物由熔点低于250℃的材料的未扩散部分(12’、52’、72’)所涂覆。本发明还涉及一种用于制造封装装置(3)的方法(21)。 | ||
搜索关键词: | 制造 封装 装置 方法 | ||
【主权项】:
布置成与另一零件(4、2)配合以形成用于部件(5)的封装装置(3)的元件(2、4、44、64),包括至少部分地涂覆有金属化部分(11、9、49、69)的元件(2、4、44、64),其特征在于,所述金属化部分包括由金属间化合物(19、59、79)保护的至少一个金属层(15、16、55、64),所述金属间化合物由熔点低于250℃的材料的未扩散部分(12’、52’、72’)所涂覆。
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